薄層色譜成像儀 色譜成像儀操作流程原理薄層樣品熒光斑點(diǎn)和熒光淬滅樣板
薄層色譜成像儀通過(guò)分離和檢測(cè)樣品中的不同成分實(shí)現(xiàn)成像分析,其核心操作原理及流程如下:
分離原理
將樣品點(diǎn)在薄層上(如玻璃板或塑料片材),利用流動(dòng)相在特定展開(kāi)室推動(dòng)樣品組分移動(dòng)。各組分因與固定相(吸附劑)的相互作用差異形成分離斑紋。 ?
檢測(cè)原理
?紫外/可見(jiàn)光檢測(cè)?:通過(guò)紫外光(如254nm或365nm)照射斑點(diǎn),測(cè)量光強(qiáng)變化實(shí)現(xiàn)定量分析。
?熒光檢測(cè)?:特定化合物(如含共軛雙鍵結(jié)構(gòu))在紫外光激發(fā)下產(chǎn)生熒光,形成可見(jiàn)斑點(diǎn)。 ?
操作流程
?樣品制備?:將樣品溶解后用毛細(xì)管或點(diǎn)樣工具點(diǎn)在薄層板上,干燥后放入掃描儀。
?參數(shù)設(shè)置?:選擇檢測(cè)波長(zhǎng)(如254nm或365nm)、調(diào)整掃描區(qū)域、分辨率(如20~200μm/像素)及曝光時(shí)間。 ?
?掃描成像?:儀器通過(guò)光學(xué)傳感器(如CCD)采集反射或發(fā)射光信號(hào),轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像。 ?
?數(shù)據(jù)分析?:計(jì)算Rf值(比移值),結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。 ?
核心配置
儀器包含可更換探測(cè)器(如NaI閃爍體/塑料閃爍體)、雙波長(zhǎng)掃描系統(tǒng)及輻射防護(hù)設(shè)計(jì),支持模擬/數(shù)字信號(hào)接口連接色譜數(shù)據(jù)系統(tǒng)。